ty -jour a2 -Abdel -Mottaleb,Mohamed Sabry au -Krylova,Valentina au -Andrulevičius,Mindaugas PY -2009 da -2009/2009/11/22 TI-光学,XPS和XRD研究,XPS,XPS和XRD研究,用于在多酰胺膜SP -Polyamide sp--多酰胺层的硫化铜层上的研究304308 VL -2009 AB-使用吸附扩散法在聚酰胺PA 6表面上形成硫化铜层。将聚合物样品浸入0.15 mol中4和5 h Å DM - 3 k 2 s 5 o 6 溶液并用HCl酸化(0.1 mol Å DM - 3 ) 在 20 C 。洗涤和干燥后,将样品用Cu(i)盐溶液处理。对样品进行了研究,byuv/vis,X射线衍射(XRD)和X射线光电子光谱(XPS)方法。所有方法证实,在聚酰胺膜的表面上形成了一层硫化铜。硫化铜层是间接的带隙半导体。值 e BG 分别为1.25和1.3 eV,分别为4 h和5 h硫磺Pa 6。铜XPS光谱分析显示,仅在较深的膜的较深层中键(i)键,而在硫XPS S 2P光谱中,在清洁表面和用硫化物S 2P光谱中发现了主导的硫化物键。 ar + 离子。它是通过XRD方法建立的 2 s ,该层包含 1 9375 s 同样。对于PA 6最初硫磺4小时,晶粒尺寸 chalcicite,,,, 2 s , 曾是 35.60  nm and for Djurleite,,,, 1 9375 s ,是54.17 nm。获得的层的板电阻从6300到102不等  ω / 厘米 2 。SN -1110-662X UR -https://doi.org/10.1155/2009/304308 do -10.1155/2009/304308 JF-国际光学杂志PB -Hindawi Publishing Corporation kw -er -er -er -er-